Olika typer av elektronmikroskop

Elektronmikroskopi utnyttjar en fokuserad stråle av elektroner för att skapa högupplösta bilder av ett mål exemplar . Med beaktande av följande ljusmikroskop är begränsade i sin förstoring genom våglängden för fotoner , är elektronmikroskop begränsas av den mycket mindre våglängd av elektroner på så sätt åstadkomma förstoringen ned till nära 0,05 nanometer. Det finns fyra huvudsakliga typer av elektronmikroskop , som alla kan grovt avgränsas av den typ av reflekterad energi de spela in från provet . Historia

första elektronmikroskop , ett transmissionselektronmikroskop , konstruerades av de tyska ingenjörerna Max Knoll och Ernst Ruska 1931 . Även om den ursprungliga prototypen uppnått en lägre förstoring än den aktuella ljusmikroskop, Knoll och Ruska framgångsrikt visat designen var möjligt och två år senare överträffade ljusmikroskopi förstoringen . Alla efterföljande iterationer av elektronmikroskop är baserade på denna ursprungliga prototypen. Addera transmissionselektronmikroskop (TEM)

Transmissionselektronmikroskopproducera bilder genom att spela in elektronstrålen efter att den har passerat genom en tunn skiva av provet. Provet placeras på en koppartråd rutnät och utsattes för en elektronstråle , som normalt genereras genom att köra med hög spänning över en volframglödtråd . Den elektronstråle färdas genom en samlingslins , slår provet och fortsätter genom objektiva och projektiva linser innan de samlas på en fosforskärm . Som med alla former av elektronmikroskopi , måste målet provet dehydratiseras och isoleras i ett vakuum för att undvika kontaminering av vattenånga , som kan orsaka oönskad elektron spridning . TEM producerar den största förstoringen av alla elektronmikroskop . Addera svepelektronmikroskop ( SEM )

Scanning elektronmikroskop , tillsammans med transmissionselektronmikroskop, är de mest används i stor utsträckning . Till skillnad från TEM , svepelektronmikroskop producera bilder genom att samla de sekundära eller oelastiskt spridda elektroner som studsar från ytan av ett prov . Den primära elektronstrålen färdas genom ett flertal kondensorlinser , genomsökningsspolar och en objektivlins innan den träffar ytan av provet . Elektronstrålen sprids på att slå provet och en sekundär elektrondetektorsamlar de spridda elektronerna . Elektron data används sedan raster - avsöks för att producera bilder av ytan med stor skärpedjup . Addera Reflektion elektronmikroskop ( REM)

Reflection elektronmikroskop fungerar mycket likt SEM i termer av struktur . REMS dock samla bakåtspridda eller elastiskt spridda elektroner efter primärelektronstrålenträffar provytan . Reflection elektronmikroskop är oftast tillsammans med spin - polariserad lågenergihus elektronmikroskopi för att bilden den magnetiska domänen tecknandet av provytor i datorkretsarkonstruktion .
Scanning transmissionselektronmikroskop ( STEM ) katalog

Scanning transmissionselektronmikroskop, som traditionella TEM , passera en elektronstråle genom en tunn skiva av provet . Istället för att fokusera elektronstrålen efter att ha passerat genom provet , fokuserar en STEM strålen förväg och konstruerar bilden genom rasterskanning. Scanning transmissionselektronmikroskopär väl lämpade för analytisk kartläggning tekniker såsom elektronenergiförlustspektroskopioch ringformig mörkfältsmikroskop . Addera