Olika typer av elektronmikroskop

Elektronmikroskopi utnyttjar en fokuserad stråle av elektroner för att skapa högupplösta bilder av ett mål-prov. Eftersom lätta mikroskop är begränsade i sin förstoring med våglängden av fotoner, är elektronmikroskop begränsas av den mycket mindre våglängden av elektroner på så sätt åstadkomma förstoringen ned till nästan 0,05 nanometer. Det finns fyra huvudsakliga typer av elektronmikroskop, som alla kan vara grovt avgränsas av den typ av reflekterad energi de spela in från provet. Historia

första elektronmikroskop, en transmissionselektronmikroskop, konstruerades av den tyska ingenjörer Max Knoll och Ernst Ruska 1931. Även om den ursprungliga prototypen uppnådde en lägre förstoring än dagens ljus mikroskop, visade Knoll och Ruska framgångsrikt designen var möjligt och två år senare överträffade ljusmikroskop i förstoringen. Alla efterföljande iterationer av elektronmikroskop är baserade på denna ursprungliga prototypen.
Transmissionselektronmikroskop (TEM)

Transmission elektronmikroskop producera bilder genom att spela in elektronstrålen efter det har passerat genom en tunn skiva av provet. Provet placeras på en koppartråd rutnät och utsattes för en elektronstråle, som normalt genereras genom att köra hög spänning över en volframtråd. Elektronstrålen färdas genom en kondensor lins, slår provet och fortsätter genom objektiva och projektiva linser innan de samlas på en fosforskärm. Som med alla former av elektronmikroskopi, måste målet provet vara uttorkad och isolerad i ett vakuum för att undvika vattenånga förorening, som kan orsaka oönskad elektron spridning. TEM producerar den största förstoringen av alla elektronmikroskop.
Svepelektronmikroskop (SEM)

Svepelektronmikroskop, tillsammans med mikroskop transmissionselektronmikroskop, är den mest i stor utsträckning. Till skillnad från TEM, svepelektronmikroskop producera bilder genom att samla de sekundära eller oelastiskt spridda elektroner som studsar på ytan av ett prov. Den primära elektronstrålen färdas genom flera kondensorlinser, spolar scan och en objektiv lins innan den träffar ytan av provet. Elektronstrålen skingras över att träffa provet och en sekundär elektron detektor samlar de spridda elektroner. Elektronen uppgifter är då raster-skannas för att producera bilder av ytan med stor skärpedjup.
Reflection Electron Microscope (REM)

Eftertanke elektronmikroskop fungerar väldigt likt SEMs i termer av struktur. Rems dock samla bakåtspridda eller elastiskt spridda elektroner efter den primära elektronstrålen träffar provytan. Reflection elektronmikroskop oftast tillsammans med spinpolariserad lågenergihus elektronmikroskopi att avbilda magnetiska domänen undertecknandet av prov ytor i datorn kretsar konstruktion.

Scanning mikroskop Transmissionselektronmikroskop, som traditionella TEM, passera en elektronstråle genom en tunn skiva av provet. Istället för att fokusera elektronstrålen efter att ha passerat genom provet, fokuserar en STEM strålen förväg och konstruerar bilden genom raster scanning. Scanning överföring elektronmikroskop är väl lämpade för analytiska kartläggning tekniker såsom elektronerna förlust spektroskopi och ringformiga mörka fält mikroskopi.